Nearfield Instruments และ A*STAR IME ของสิงคโปร์ ลงนามในข้อตกลงความร่วมมือด้านการวิจัยเพื่อพัฒนาโซลูชันการวัดทางเมตริกสำหรับยุคของปัญญาประดิษฐ์และแพคเกจจิ้งขั้นสูง
Nearfield Instruments ผู้นำด้านการวัดทางเมตริกสำหรับเซมิคอนดักเตอร์ขั้นสูง และสถาบันไมโครอิเล็กทรอนิกส์แห่ง A*STAR (A*STAR Institute of Microelectronics, A*STAR IME) ของสิงคโปร์ ได้ลงนามในข้อตกลงความร่วมมือด้านการวิจัยระยะเวลาหลายปีในวันนี้ เพื่อผลักดันนวัตกรรมในเทคโนโลยีการวัดทางเมตริกสำหรับเซมิคอนดักเตอร์ โดยอาศัยความเชี่ยวชาญของ Nearfield Instruments ในด้านการวัดทางเมตริกความแม่นยำสูง ร่วมกับการวิจัยเซมิคอนดักเตอร์ล้ำสมัยของ A*STAR IME ความร่วมมือครั้งนี้จะช่วยเร่งการพัฒนาโซลูชันการวัดทางเมตริกขั้นสูงที่ช่วยให้การผลิตชิป AI มีประสิทธิภาพมากยิ่งขึ้น การเติบโตอย่างรวดเร็วของปัญญาประดิษฐ์กำลังก่อให้เกิดความต้องการพลังประมวลผลอย่างมหาศาล ซึ่งเปิดโอกาสให้เกิดนวัตกรรมในเทคโนโลยีเซมิคอนดักเตอร์ เมื่อการพัฒนาเซมิคอนดักเตอร์แบบเดิมเริ่มถึงขีดจำกัด อุตสาหกรรมจึงหันมาใช้การบูรณาการแบบเฮเทอโรจีนีเรียส ซึ่งเป็นการแพคเกจจิ้งขั้นสูงที่รวมชิปประเภทต่าง ๆ เข้าไว้ในระบบเดียว เพื่อให้ได้ประสิทธิภาพการประมวลผลที่เหนือกว่าและประหยัดพลังงานมากยิ่งขึ้น การเปลี่ยนแปลงนี้ได้นำมาซึ่งความซับซ้อนที่เพิ่มขึ้นในการผลิต และเน้นย้ำถึงความสำคัญอย่างยิ่งของการควบคุมกระบวนการและการวัดทางเมตริกที่มีความแม่นยำ เพื่อให้มั่นใจในผลผลิตและประสิทธิภาพในการผลิต “AI กำลังเปลี่ยนแปลงทุกสิ่ง แต่ความสำเร็จนั้นขึ้นอยู่กับทั้งประสิทธิภาพในการประมวลผลและประสิทธิภาพในการผลิต” Hamed Sadeghian